Systematic method for electrical characterization of random telegraph noise in MOSFETs

FI: 1,58
Tipo: Article

Inicio · TEC04-Nanoelectrónica

Colaboración

Año: 2017

Autores

Marquez, C; Rodriguez, N; Gamiz, F; Ohata, A

Revista

Título: SOLID-STATE ELECTRONICS

Cuartil

Q3