Multisubband Ensemble Monte Carlo Analysis of Tunneling Leakage Mechanisms in Ultrascaled FDSOI, DGSOI, and FinFET Devices

FI: 2,704
Tipo: Article

Inicio · TEC04-Nanoelectrónica

Artículo original

Año: 2019

Autores

Medina-Bailon, C; Padilla, JL; Sadi, T; Sampedro, C; Godoy, A; Donetti, L; Georgiev, VP; Gamiz, F; Asenov, A

Revista

Título: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

Cuartil

Q2