Active Radiation-Hardening Strategy in Bulk FinFETs

FI: 3,745
Tipo: Article

Inicio · TEC04-Nanoelectrónica

Artículo original

Año: 2020

Autores

Calomarde, A; Rubio, A; Moll, F; Gamiz, F

Revista

Título: IEEE ACCESS

Cuartil

Q1