A Mixed Methods Approach to the Analysis of Bias in Cross-cultural Studies

FI: 4,677
Tipo: Article

Inicio · TEC04-Nanoelectrónica

Artículo original

Año: 2022

Autores

Benitez, I; Van de Vijver, F; Padilla, JL

Revista

Título: SOCIOLOGICAL METHODS & RESEARCH

Cuartil

Q1