Theoretical characterisation of point defects on a MoS2 monolayer by scanning tunnelling microscopy

FI: 3,573
Tipo: Article

Inicio · TEC04-Nanoelectrónica

Colaboración

Año: 2016

Autores

Gonzalez, C; Biel, B; Dappe, YJ

Revista

Título: NANOTECHNOLOGY

Cuartil

Q1