The Electron-Hole Bilayer TFET: Dimensionality Effects and Optimization
FI: 2,207
Tipo: Article
Colaboración
Año: 2016
Autores
Alper, C; Palestri, P; Padilla, JL; Ionescu, AM
Revista
Título: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
Cuartil
- Q1
FI: 2,207
Tipo: Article
Colaboración
Año: 2016
Alper, C; Palestri, P; Padilla, JL; Ionescu, AM
Título: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES